-
眾所周知，X射線管出射的X射線光譜由靶材元素的特征線和軔致輻射連續(xù)譜組成，軔致輻射連續(xù)譜在樣品上的散射是X射線熒光光譜分析中被測(cè)元素譜線背景的主要來(lái)源，是影響微量元素檢出限的主要原因。
因此，理想的用于激發(fā)樣品元素的激發(fā)源如下特點(diǎn)：
• 單一能量入射（單色化入射）樣品，減少連續(xù)譜線對(duì)被測(cè)元素的背景干擾；
• 入射能量略高于待測(cè)元素的吸收邊，激發(fā)效率高；
• 入射強(qiáng)度高且穩(wěn)定的激發(fā)源，提升待測(cè)元素的熒光強(qiáng)度；
• 入射能量聚焦到樣品較小點(diǎn)或面，利于元素?zé)晒馍渚€的收集和探測(cè)；
Johansson型雙曲面彎晶具備以上特點(diǎn)的理想激發(fā)源，雙曲面彎晶可以將光管特征X射線單色化，將入射X射線聚焦到樣品較小面，同時(shí)，不同角度和材質(zhì)的雙曲面彎晶可以用于選擇不同波長(zhǎng)的射線，從而達(dá)到選擇性和高效率激發(fā)樣品中元素的能力。
全聚焦型雙曲面彎晶（Johansson-typeDCC）能夠?qū)ξ⒔拱?/span>X射線管出射的高強(qiáng)特征X射線進(jìn)行Bragg衍射單色化并聚焦到直徑數(shù)十到數(shù)百微米的聚焦面，對(duì)樣品中的元素進(jìn)行單波長(zhǎng)激發(fā)，由于不再有連續(xù)譜入射到樣品上，被測(cè)元素特征線理論上不存在連續(xù)的散射背景，因而具有良好的峰背比，較低的檢出限，可以對(duì)微量甚至痕量元素進(jìn)行定性定量檢測(cè)。
• 全聚焦型雙曲面彎晶（Johansson-type DCC），可對(duì)微焦斑X射線管出射的X射線準(zhǔn)確聚焦于微小聚焦點(diǎn)，高X射線通量和單色化入射；
• 在羅蘭圓方向和旋轉(zhuǎn)方向均可進(jìn)行多塊晶體拼接，成倍增大衍射立體角；
• 單色化X射線入射并激發(fā)樣品中元素，極大降低了X射線光管連續(xù)譜對(duì)檢測(cè)元素的連續(xù)背景，可對(duì)微量元素甚至痕量元素進(jìn)行精確定量分析；
• 微小的聚焦點(diǎn)，可實(shí)現(xiàn)微區(qū)精確定量分析，尤其適合其中微量元素的分析；
• 使用壽命長(zhǎng)，長(zhǎng)時(shí)間使用不會(huì)帶來(lái)性能的降低；
• 選擇不同材質(zhì)和設(shè)計(jì)角度，可用于衍射不同靶材的特征譜線；
• 低背景XRF：?jiǎn)尾ㄩL(zhǎng)激發(fā)X射線熒光光譜儀Monochromatic XRF；
• 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀：增大衍射立體角波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀；
• 微區(qū)分析：與微焦斑X射線光管組成微區(qū)元素成份分析；
• 元素成像：與顯微鏡組成高精度、高靈敏度（亞ppm）、高空間分辨率的元素成像系統(tǒng)；
• 全反射XRF：達(dá)到較低檢出限的元素成份分析（ppb級(jí)別）；
• XRD：提升X射線衍射光譜性能；
