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MEGREZ-α雙源單波長(zhǎng)激發(fā)-能量色散X射線熒光光譜儀是安科慧生十年技術(shù)積累的結(jié)晶，依靠全聚焦型雙曲面彎晶核心技術(shù)，采用兩個(gè)X射線激發(fā)源，將能量色散X射線熒光光譜儀元素分析范圍擴(kuò)展至C、N、O、F，且有無(wú)可比擬的靈敏度和穩(wěn)定性，結(jié)合一如既往對(duì)金屬元素優(yōu)異的低檢出限性能，從而成為元素分析性能優(yōu)異的新型X射線熒光光譜儀。
全息基本參數(shù)法（Holospec FP 2.0®）對(duì)MEGREZ-α無(wú)縫支持，提升元素定量準(zhǔn)確度和適應(yīng)性，客戶可以輕松自如完成各類樣品的方法開發(fā)，為XRF帶來前所未有的應(yīng)用前景。
• 核心技術(shù)：集成X射線熒光光譜儀前沿技術(shù)
1) 全聚焦型雙曲面彎晶單色化聚焦激發(fā)技術(shù)
● 極大消除X射線管出射譜中散射線背景
● 聚焦激發(fā)增加探測(cè)器接收元素?zé)晒庑盘?hào)強(qiáng)度
● 偏振消光光路進(jìn)一步降低入射射線散射線背景
2) 雙X射線管實(shí)現(xiàn)全元素（C-U）高靈敏分析
● 雙X射線管與雙曲面彎晶組成多個(gè)單色化器，實(shí)現(xiàn)全元素分析范圍
● 增強(qiáng)對(duì)超輕元素（C、N、O、F）激發(fā)和接收性能
3) 軟件核心技術(shù)：全息基本參數(shù)法（Holospec FP 2.0）
● 理論計(jì)算解決XRF基體效應(yīng)、元素間吸收-增強(qiáng)效應(yīng)、探測(cè)器效應(yīng)等
● 實(shí)現(xiàn)元素?zé)o標(biāo)定量分析
● 提升元素定量精度
● 擴(kuò)展樣品適應(yīng)范圍
集成X射線熒光領(lǐng)域核心技術(shù)的雙源單波長(zhǎng)激發(fā)-能量色散X射線熒光光譜儀MEGREZ-α榮獲“2022年朱良漪分析儀器創(chuàng)新成果獎(jiǎng)”和“2022年度科學(xué)儀器行業(yè)優(yōu)秀新品獎(jiǎng)”！
- 雙X射線管多單色化器
創(chuàng)新采用Ag靶與W靶雙X射線管設(shè)計(jì)，分別與全聚焦型雙曲面彎晶組成單色化聚焦入射光路，分段高效激發(fā)全元素（C-U）能量范圍。
下照式光路設(shè)計(jì)
入射射線自上而下照射樣品表面，避免樣品表面灰塵污染光路系統(tǒng)或探測(cè)器，更可直接分析液體樣品。
樣品自旋裝置
樣品圍繞中心軸旋轉(zhuǎn)，入射射線掃描樣品較大面積，減少樣品不均勻性造成的分析誤差。
機(jī)器人進(jìn)樣系統(tǒng)
三軸機(jī)器人進(jìn)樣系統(tǒng)，定位精度±0.1mm，可批量完成90個(gè)以上樣品分析。
自充氣光路吹掃系統(tǒng)
氫氣氣路吹掃系統(tǒng)使系統(tǒng)快速達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)，無(wú)需復(fù)雜的維護(hù)。
- 指標(biāo)參數(shù)說明原理雙源單波長(zhǎng)激發(fā)-能量色散X射線熒光光譜儀采用雙X射線管和全聚焦型雙曲面彎晶分段高效激發(fā)不同能量段元素測(cè)試范圍
元素周期表C6-U92之間的元素 元素檢出限 超輕元素（C-F）：O - LOD＜0.2%，F(xiàn) - LOD＜0.05%；
重金屬元素（Co-U）：Pb/As - LOD＜0.2mg/kg，Cd-LOD＜0.1mg/kg；
（C、H、O、N為主量元素的輕基體樣品，元素分析時(shí)間以300秒計(jì)）重復(fù)性超輕元素：F含量1%，RSD＜5%；
輕元素：S含量50mg/kg，RSD＜5%；
重金屬元素：Pb/As/Cd含量1mg/kg，RSD＜10%；
（輕基體樣品，元素分析時(shí)間600秒，7次分析重復(fù)性結(jié)果）無(wú)標(biāo)定量能力主量元素1%-90%，相對(duì)誤差±10%；
雜質(zhì)元素0.01%-1%，相對(duì)誤差±15%；
微量元素0.0001%-0.01%，相對(duì)誤差±20%；全息基本參數(shù)法與先進(jìn)的數(shù)學(xué)模型相結(jié)合；
采用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)建立校正曲線，定量精度進(jìn)一步提升分析時(shí)間30~900秒依據(jù)樣品類型和元素分析范圍和精度，軟件設(shè)定自動(dòng)進(jìn)樣單元＞90位機(jī)器人自動(dòng)進(jìn)樣裝置；
位置重復(fù)定位精度＜0.1mm；環(huán)境要求溫度23℃±5℃
濕度＜85%Rh
電源220V±15V，1000W光源系統(tǒng) 全聚焦型雙曲面彎晶技術(shù)，單色化聚焦入射樣品； 探測(cè)器 能量分辨率≤130eV@Mn Kα，最大計(jì)數(shù)率≥1100kcps；
可選與可升級(jí)部件表
部件 性能 說明 輕元素單色化激發(fā)與聚焦裝置 高效激發(fā)輕元素（Na-Cl）和金屬元素范圍（K-Zn） 相應(yīng)的X射線管與單色化器 重金屬元素單色化激發(fā)與聚焦裝置 高效激發(fā)金屬元素（K-Zn）和重金屬元素（Ga-U）范圍 相應(yīng)的X射線管與單色化器 超輕元素增強(qiáng)型SDD探測(cè)器 增強(qiáng)超輕元素（C-F）元素?zé)晒馔高^率 更換為增強(qiáng)超輕元素型SDD探測(cè)器 自動(dòng)進(jìn)樣單元 90位機(jī)器人進(jìn)樣單元
具體配置與性能指標(biāo)，請(qǐng)咨詢安科慧生工作人員！
環(huán)境物質(zhì)（土壤、固廢、空氣濾膜、水質(zhì)）無(wú)機(jī)元素含量分析；礦產(chǎn)冶煉從骨料、精礦到金屬、合金元素含量分析；
鋰電池（前驅(qū)體、正極、負(fù)極、涂布層）材料元素（包括Li）含量分析；
食品、農(nóng)產(chǎn)品、中藥中重金屬含量分析；
各類鍍層膜厚元素成分與厚度分析；
科學(xué)研究；
適用于液體、固體、粉末樣品類型；
具體適用于產(chǎn)品分析樣品與元素含量，請(qǐng)咨詢安科慧生工作人員！
雙源單波長(zhǎng)激發(fā)-能量色散X射線熒光光譜儀雙源單波長(zhǎng)激發(fā)-能量色散X射線熒光光譜儀是安科慧生十年技術(shù)積累的結(jié)晶，依靠全聚焦型雙曲面彎晶核心技術(shù)，采用兩個(gè)X射線激發(fā)源，將能量色散X射線熒光光譜儀元素分析范圍擴(kuò)展至C、N、O、F，且有無(wú)可比擬的靈敏度和穩(wěn)定性，結(jié)合一如既往對(duì)金屬元素優(yōu)異的低檢出限性能，從而成為元素分析性能優(yōu)異的新型X射線熒光光譜儀。
MEGREZ-α產(chǎn)品技術(shù)白皮書
通過全聚焦型雙曲面彎晶技術(shù)實(shí)現(xiàn) X 射線光管出射譜單色化聚焦激發(fā)樣品，降低 X 射線管散射線背景 干擾，大幅降低元素檢出限;采用高計(jì)數(shù)率與分辨率硅漂移探測(cè)器采集熒光信號(hào)，達(dá)到對(duì)樣品中痕量元素 檢測(cè)能力;完整的基本參數(shù)法，提升樣品元素定量精度和樣品適應(yīng)性，支持開發(fā)各類樣品應(yīng)用方法;采用 雙 X 射線管實(shí)現(xiàn)不同能量段的單色化聚焦激發(fā)，實(shí)現(xiàn)更寬元素范圍(C-U)定量分析。
